| 是否进口：否 | 产地：奥林巴斯 | 加工定制：否 |
| 品牌：奥林巴斯 | 型号：Vanta Element | 类型：合金元素分析仪器 |
| 测试范围：Mg到U | 测量时间：2S | 测量精度：0.01 |
| 电源电压：12VHZ | 适用范围：Ti、V、Cr、Mn |
奥林巴斯美国公司位于美国波士顿，是美国纽约证券交易所上市企业，是全球***的微型X荧光光谱技术研发商，生产的便携式X射线荧光光谱分析仪在中国占据近40%的市场份额。
奥林巴斯美国公司是全球通过ISO9001质量体系认证的微型X荧光光谱技术分析仪器的生产厂商，同时通过了NATO AQAPI标准。(该标准为北大西洋公约组织对精密武器及其零件供应商的品质要求)。
奥林巴斯便携式X射线荧光光谱分析仪已经被广泛应用于地质、采矿、金属、土壤、环境、考古、油品、木材、电子、医药、环保、啤酒、电力、石化、玩具、大型工程、锅炉制造、再生资源金属、玻璃的回收、刑事证据鉴定等各种不同领域的日常分析。被联合国国际原子能机构广泛使用的产品，已多次在伊拉克武器核查和伊朗核查中发挥作用。
奥林巴斯便携式X射线荧光光谱分析仪，被联合国原子能机构和联合国环境规划暑确认为最有效检的应对有害元素检测、合金分析、矿石分析、环境分析的产品，目前正服务于伊朗核查和欧美各大海关等重要部门。
应用领域
材料可靠性鉴别（PMI）
Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578 （API-RP-578）验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石油化工厂以及其它处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解这些部件及机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能知道材料的来源。
废旧金属回收分拣（sorting）
机械加工的金属边角料，报废的金属材料需要回收再利用；通过Vanta分析仪可在现场快速鉴别合金化学成分，评估金属价值，并对废旧金属进行分拣，重新打包，按照不同的化学成分制成对应炉料，可以提高金属回收再利用流程中各阶段的价值。
制造业质量控制（QA/QC）
企业生产通过Vanta分析仪现场快速完成金属来料，制成，仓管，出货过程中的牌号、化学成分品质检测，避免因产品混料、材质不达标等问题给企业带来的经济和名誉损失。
金属镀层测厚
在很多行业中，都需要测量产品的涂层厚度。 Vanta分析仪的镀层模式可以在几秒钟内测量出以微米为单位的涂层厚度。这个功能可以最多测量3层覆盖在任何类型基底上的涂层，基底材料可以是金属、塑料、玻璃，甚至木材。
地球化学和矿业勘探
Vanta手持式分析仪是一款在地质分析活动中极受欢迎的工具，这些应用包括矿业勘探中地表露头和钻芯分析，选矿分析以及土壤，污水，植物的重金属或者营养元素分析。分析仪可以在各种多样复杂的环境中提供具有重复性的***结果。Vanta分析仪可以全天候工作，甚至在沙模或丛林环境的高温情况下；在边远地区，这种优势体现得更为明显。
汽车三元催化剂测试
汽车排气管里一般有Pt,Pa,Rh三个元素组成的催化剂，Vanta手持式分析仪可以快速的测试出里边具体含有哪些元素和PPM级别的含量成分，方便制造厂商快速分辨材料，回收行业决定回收价值
珠宝/贵金属的辨别
Vanta分析仪可以在现场指明各种各样的珠宝和贵金属的特性，这些贵金属包括金、银、铂、钯等。分析仪可以根据含金纯度为含金合金***地进行分类（0到24克拉），而且还可以辨别出镀金饰品。由于贵金属的昂贵价格，用户可以迅速得到投资回报。
优势特点
坚固:
通过美国军用标准810G 1.2米跌落测试
IP 54防个方向水溅射
革新：
奥林巴斯新开发的Axon技术，提高了XRF信号处理的性能，可为用户提供重复性极高的***检测结果。Axon技术使用******噪声电子设备，提高了X射线探测器的性能，在每秒钟之内可完成更高的X射线计数，从而可以更快的速度获得更可靠的结果。采用了Axon技术的分析仪，在每次检测之间和各个仪器之间，都具有极高的重复性。
高效：
Vanta分析仪可以在很大程度上提高用户的分析量，并使数据归档操作简单易行。针对特定应用的各种软件功能可以提高用户的生产效率。
? 用户可以自行定制显示在主屏幕上的功能快捷键。
? 可以通过一个U盘、SD卡、Wi-Fi或蓝牙功能，云应用等方便地将数据导出。
? 符合人体工程学要求的按钮以及工业级别的操控杆按钮，可使用户在戴着手套使用?
奥林巴斯VEL 手持式XRF分析仪技术参数
1 | 重量 | 仪器净重1.3kg |
2 | 工作温度 | -15℃～+ 50℃ 。 |
3 | 外形 | 仪器主机屏幕一体化设计，外形尺寸：242mm x 289mm x 83mm |
4 | 激发源 | 高性能微型X光管，钨靶，光管功率2W，匹配管电压35KV，管电流50μA |
5 | 探测器 | 采用高精度、高灵敏度、高分辨率的硅半导体探测器，采用Peltier半导体恒温致冷方式 |
6 | 分析范围 | 合金模式：Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Zr、Nb、Mo、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Hf、Ta、W、Re、Pb、Bi等23种元素 贵金属模式: Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、Zr、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、In、Sn、Sb、W、Os、Ir、Pt、Au、Pb、Bi26种元素
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7 | 元素含量检测范围 | 0.001%到100.00%。 |
8 | 操作系统 | Linux操作系统 |
9 | 智能化 | 可根据自身使用习惯，设定显示屏亮度、字体大小、是否允许屏幕旋转、按键声音等，甚至可对测试时各阶段要求进行警示声设定 |
10 | 定量方法 | 基本参数法 (FP)结合经验系数法，盲样测试效果更佳 |
11 | 显示操控 | 800*480(WVGA)液晶电容式触摸屏操作，支持直接截屏操作，阳光直射下也能清晰地看到检测结果；支持物理按钮控制 |
12 | ***性 | 符合IP54标准，具有防尘和防水性能； 通过美军标准MIL-STD810G的4英尺（1.2m）高空跌落测试； 大面积散热器，即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性； X射线开启警示灯闪烁；背散，红外保护，无样品自动停止，防止误操作 |
13 | 滤光片 | 内置1组滤光片 |
14 | 电源 | 可充电锂电池，电池上可以显示电量，可连续使用4-6小时，可用充电锂电池供电或用交流适配器供电 |
15 | 数据存储 | 4GB嵌入存储，外置1G SD卡，可扩展存储容量，数据以年、月、日为单位进行排列，可快速查找到数据可存储几十万个检测结果，可利用Wifi或蓝牙实现网络共享。 |
16 | 数据传输 | 3个USB接口，可通过SD卡、U盘、USB线或者选配WIFI、蓝牙、云盘传输；报告可pdf或Excel格式，包括元素含量、图谱等，并有多种模板供选 |
